Безконтактне терагерцове зображення напівпровідників (heise.de)

• Використання терагерцових хвиль для неінвазивного аналізу
• In-situ зображення активних p-n-переходів
• Здатність проникати крізь захисні оболонки

"Дослідники продемонстрували метод візуалізації p-n-переходів у напівпровідниках під час роботи та крізь корпус за допомогою терагерцової спектроскопії. Ця неруйнівна техніка дозволяє аналізувати внутрішню динаміку без фізичного контакту, хоча поточна роздільна здатність обмежена грубішими структурами."