Puolijohteiden kontaktiton terahertsi-kuvantaminen (heise.de)
0xBASE INTEL BRIEF
- Terahertsiaaltojen käyttö invasiivittomaan analyysiin
- Aktiivisten p-n-liitosten in-situ-kuvantaminen
- Kyky läpäistä kotelointikerroksia
"Tutkijat ovat kehittäneet menetelmän, jolla voidaan visualisoida puolijohteiden p-n-liitoksia toiminnan aikana ja koteloinnin läpi hyödyntäen terahertsispektroskopiaa. Tämä rikkomaton menetelmä mahdollistaa sisäisen dynamiikan analysoinnin ilman fyysistä kontaktia, vaikka nykyinen tarkkuus rajoittuu karkeampiin rakenteisiin."
#Puolijohdefysiikka
#Terahertsiteknologia
#Rikkomaton testaus
ei vielä kommentteja.