Imagerie térahertz sans contact des jonctions semi-conducteurs (heise.de)

• Application d'ondes térahertz pour l'analyse non invasive
• Imagerie in situ de jonctions p-n actives
• Capacité à traverser les couches d'emballage

"Des chercheurs ont mis au point une méthode permettant de visualiser les jonctions p-n des semi-conducteurs en fonctionnement à travers leur boîtier grâce à la spectroscopie térahertz. Cette technique non destructive facilite l'analyse des dynamiques internes sans contact physique, bien que la résolution soit actuellement limitée aux structures plus larges."