Kontaktlose Terahertz-Bildgebung für Halbleiterstrukturen (heise.de)

• Einsatz von Terahertz-Wellen zur nicht-invasiven Analyse
• Direkte Beobachtung von p-n-Übergängen im aktiven Betrieb
• Überwindung von Gehäusebarrieren ohne physischen Kontakt

"Forscher haben eine Methode entwickelt, um p-n-Übergänge in Halbleitern unter Betriebsbedingungen und durch Gehäuse hindurch mittels Terahertz-Spektroskopie sichtbar zu machen. Die Technologie ermöglicht eine zerstörungsfreie Analyse, wobei die aktuelle Auflösung derzeit noch auf gröbere Strukturen begrenzt ist."