Imagen de terahercios sin contacto para semiconductores (heise.de)

• Uso de ondas de terahercios para análisis no invasivo
• Visualización in situ de uniones p-n activas
• Penetración de capas de empaquetado semiconductor

"Investigadores han desarrollado una técnica para visualizar uniones p-n en semiconductores durante su funcionamiento y a través de encapsulados mediante espectroscopía de terahercios. Este método no destructivo permite analizar dinámicas internas sin contacto físico, aunque la resolución actual está limitada a estructuras más grandes."