Imaging Terahertz senza contatto per semiconduttori (heise.de)

• Applicazione di onde terahertz per analisi non invasive
• Imaging in situ di giunzioni p-n attive
• Capacità di penetrare gli strati di incapsulamento

"I ricercatori hanno dimostrato un metodo per visualizzare le giunzioni p-n nei semiconduttori in condizioni operative attraverso il packaging, utilizzando la spettroscopia terahertz. Questa tecnica non distruttiva consente l'analisi delle dinamiche interne senza contatto fisico, sebbene la risoluzione attuale sia limitata a strutture più ampie."